Via‐Spec™は新しいNIR hyperspectral imagingシステムです。反射特性よりも透過特性の測定が適している薄い半透明サンプルも透過システムによって分析が可能です。透過システムによって、あらゆるサンプルに対して光を透過して様々なデータ分析を行うことができ、反射測定よりも効果的にデータ取得が可能となります。反射測定も可能です。
■特徴
・ユニークな透過、反射システム
・繰り返し測定機能
・幅広い測定範囲を実現するマルチハロゲンモジュール
・LED/ハロゲンまたはデュアルファイバーライン光源
・ENVIフォーマットとの互換性
・Evince™ソフトウェアもオプションで選択可能
・カスタマイズ可能な応用性