UpIRは、分光器の試料室平面より上にサンプリング面を 持つ高構造のアクセサリとして設計されており、アクセサ リのトッププレートの上に大きくて固いサンプルを下向き に置いて使用します。
粉末状または小さい固体の場合は、 それらをトッププレート測定面に適切なサンプリングカップに入れて測定することができます。
このデザインは、大きなサンプルや小さなサンプルの金属表面のコーティングの中赤外分析に非常に適しています。
このアプリケー ションでは、サンプル前処理やクリーンアップが不要なため、分析は迅速で簡単です。